О книге

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.

Для студентов и преподавателей технических вузов. Это и многое другое вы найдете в книге Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей (В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов)

Полное название книги	А. П. Алхимов, В. А. Батаев, А. А. Батаев Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
Тип	Книга
Авторы	А. П. Алхимов, В. А. Батаев, А. А. Батаев
Категории	Деловая литература, Книги
ISBN	9785976502079
Возрастное ограничение	18
Издательство	Флинта
Год	2007
Название транслитом	metody-strukturnogo-analiza-materialov-i-kontrolya-kachestva-detaley-v-a-bataev-a-a-bataev-a-p-alhimov
Просмотров	5
Рейтинг izbe.ru	0,0